XY/DRL-III導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀

簡(jiǎn)要描述：XY/DRL-III導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀、帶自動(dòng)加壓，自動(dòng)測(cè)厚裝置，并連計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)控制。儀器采用6點(diǎn)溫度梯度檢測(cè)，可檢測(cè)不同壓力下熱阻曲線，采用優(yōu)化的數(shù)學(xué)模型，可測(cè)量材料導(dǎo)熱系數(shù)和熱阻以及界面處接觸熱阻等多個(gè)參數(shù)。

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廠商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商
更新時(shí)間：2024-08-20
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通用分析儀器

導(dǎo)熱分析儀水分測(cè)試儀

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XY/DRL-III導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀

一、 XY/DRL-III導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀 概述

主要測(cè)試薄的熱導(dǎo)體、固體電絕緣材料、導(dǎo)熱硅脂、樹(shù)脂、橡膠、氧化鈹瓷、氧化鋁瓷等材料的熱阻以及固體界面處的接觸熱阻和材料的導(dǎo)熱系數(shù)。檢測(cè)材料為固態(tài)片狀，加圍框可檢測(cè)粉狀態(tài)材料及膏狀材料。

特點(diǎn)：帶自動(dòng)加壓，自動(dòng)測(cè)厚裝置，并連計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)控制。儀器采用6點(diǎn)溫度梯度檢測(cè)，可檢測(cè)不同壓力下熱阻曲線，采用優(yōu)化的數(shù)學(xué)模型，可測(cè)量材料導(dǎo)熱系數(shù)和熱阻以及界面處接觸熱阻等多個(gè)參數(shù)。

主要技術(shù)參數(shù)

1、試樣大?。骸?Phi;30mm

2、試樣厚度：0.02-20mm

3、熱極控溫范圍：室溫-350.00℃,控溫精度0.01℃

4、冷極控溫范圍：0-99.00℃,控溫精度0.01℃

5、導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試范圍：0.01～50W/m*k,1～300W/m*k

6、熱阻測(cè)試范圍：0.05～0.000005m²*K/W

7、壓力測(cè)量范圍：0～1000N

8、位移測(cè)量范圍：0～30.00mm

9、測(cè)試精度：優(yōu)于3%